Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Organic film formation investigated by atomic force microscopy on the nanometer scale

Untersuchung der Bildung organischer Filme auf Nonometerskala mittels Rasterkraftmikroskopie
 

:

Thin solid films 264 (1995), Nr.2, S.194-204
ISSN: 0040-6090
Englisch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer IFAM ()
Fraunhofer IZM, Einrichtung Polymermaterialien und Composite ( Fraunhofer EPC) ()
adsorption; AFM; aluminium coating; borderline angle; contact angle; coplanar; Copolymer; dip coating; film formation; Filmwachstum; Grenzlinienwinkel; Kontaktwinkel; prepolymer; silicon wafer; Silizium-Wafer; spin coating

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-27685.html