Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Microscopic identification of defects in semiconductors by electron-spin-resonance and related techniques

 
: Schneider, J.

Johnson, N.M. ; Materials Research Society -MRS-:
Microscopic identification of electronic defects in semiconductors. Symposium
Pittsburgh/Pa., 1985 (Materials Research Society symposia proceedings 46)
ISBN: 0-931837-11-1
S.13-25
Symposium on Microscopic identification of electronic defects in semiconductors <1985, San Francisco/Calif.>
Englisch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IAF ()
Defekt(aktiv); Defekt(elektrisch); Elektronenspinresonanz; Halbleiter

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-23971.html