Fraunhofer-Gesellschaft

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Least Squares Fitting of Circle and Ellipse

 
: Ahn, S.J.; Rauh, W.; Oberdorfer, B.

Levi, P.; Ahlers, R.-J.; May, F.; Schanz, M. ; Univ. Stuttgart, Institut für Parallele und Verteilte Höchstleistungsrechner; Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung -DAGM-; Gesellschaft für Informatik -GI-, Bonn:
Mustererkennung 1998. 20. DAGM-Symposium : Stuttgart, 29.September - 1.Oktober 1998
Berlin: Springer, 1998 (Informatik aktuell)
ISBN: 3-540-64935-2
S.333-340
Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung (Symposium) <20, 1998, Stuttgart>
Englisch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IPA ()
Ellipsometrie; Geometrische Form; Kreis; Messen

Abstract
The least squares fitting of geometric features to given points minimizes the squares sum of error-of-fit in predefined measures. By the geometric fitting, the error distances are defined with the orthogonal, or shortest, distances from the given points to the geometric feature to be fitted. For the geometric fitting of circle and ellipse, robust algorithms are proposed which are based on the coordinate description of the corresponding point on the circle/ellipse for the given point, where the connecting line of the two points is the shortest path from the given point to the circle/ellipse.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-21844.html