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Kontaktloses Testverfahren von digitalen integrierten Schaltungen mit dem Flüssigkeitskristall-Potentialkontrast

 
: Wieberneit, M.; Lackmann, R.

Barke, E. ; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik -GME-:
Mikroelektronik '95 : Vorträge der GME-Fachtagung
Berlin: VDE-Verlag, 1995 (GME-Fachbericht 15)
ISBN: 3-8007-2085-X
S.107-114
VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik (Fachtagung) <1995, Baden-Baden>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IMS ()
digitale integrierte Schaltung; Fehleranalyse; kontaktloses Meßverfahren; nematischer Flüssigkeitskristall; optisches Meßverfahren; Spannungskontrast

Abstract
In diesem Artikel wird ein zerstörungsfreies und kontaktloses Testverfahren von digitalen integrierten CMOS-Schaltungen auf der Basis des Flüssigkristall-Potentialkontrastes (LCPC = Liquid Crystal Potential Contrast) vorgestellt. Der LCPC resultiert aus dem bekannten feldinduzierten DAP-Effekt. Auf dieser Grundlage ist ein Testaufbau entstanden, der sich durch seine einfache Handhabung und seinen günstigen Anschaffungskosten auszeichnet. Neben den bekannten Testmoden (DC-Mode und AC-Mode) wird hier ein neuer Testmode, der DEBUG-Mode, vorgestellt. Der DEBUG-Mode ermöglicht sowohl eine funktionelle Analyse der Schaltungen auf Gatter-Ebene als auch eine indirekte Analyse des Timings. Die Leistungsfähigkeit dieser Testmoden in einem Testablauf wird an einer fehlerhaften Schaltung demonstriert. Eine abschliessende Diskussion hierzu verdeutlicht, daß dieser Testablauf eine Fehlerlokalisation auf Gatter-Ebene und eine Beschreibung der Fehlerursache ermöglicht.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-20825.html