Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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In-situ FTIR emission spectroscopy in a technological environment: chemical vapour infiltration (CVI) of SiC composites

 
: Hopfe, V.; Mosebach, H.; Erhard, M.; Meyer, M.

:

Journal of Molecular Structure 347 (1995), S.331-342
ISSN: 0022-2860
ISSN: 0166-1280
Englisch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer IWS ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-18071.html