Fraunhofer-Gesellschaft

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Einmessen von 3D-Formmeßsystemen mit strukturierter Beleuchtung

 
: Brakhage, P.; Schreiber, W.; Kowarschik, R.

Deppe, G.-J. ; Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. -DGZfP-, Berlin; VDI/VDE-Gesellschaft Meß- und Automatisierungstechnik -GMA-, Düsseldorf:
Optische Formerfassung. Erfahrungsaustausch zwischen Anwendern und Entwicklern. Manuskripte der Vorträge und Präsentationen zur DGZfP-VDI/VDE-GMA Fachtagung
Düsseldorf: VDI/VDE-GMA, 1997 (GMA-Bericht 30)
S.53-56
Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (Fachtagung) <1997, Langen>
VDI/VDE-Gesellschaft Meß- und Automatisierungstechnik (Fachtagung) <1997, Langen>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IOF ()
3D-Vermessung; Einmessen; Kalibrieren; Streifenprojektion; strukturierte Beleuchtung

Abstract
3D-Formmeßsysteme sind immer nur so genau, wie ihre Einmessung/Kalibrierung. Es gibt ungefähr so viele bestehende Lösungen für das Einmeßproblem, wie es Meßsysteme gibt. Alle Lösungen haben ihre Vor- und Nachteile. Gemeinsam ist ihnen, daß sie speziell auf das jeweilige System zugeschnitten sind. Der Nachteil liegt auf der Hand: Analogien können nicht ausgenutzt werden und bei jeder Neuentwicklung muß das Problem von neuem gelöst werden. Ausgehend von einem allgemeinen mathematischen Modell für das Meßsystem wird das Einmeßproblem abstrakt formuliert als nichtlineares Gleichungssystem. In dieses Gleichungssystem gehen verschiedene Einmeßbedingungen ein. Diese Bedingungen sind Funktionen der bekannten Größen und der einzumessenden Unbekannten. Die Lösung des Einmeßproblems ist somit zu einem rein mathematisch-numerischen Problem geworden.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PX-11177.html