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Vorrichtung zum Erfassen einer Belagsaenderung, Vorrichtung zum Erfassen eines Reinigungsfortschritts in einer zu reinigenden Anlage und Verfahren zum Steuern eines Reinigungsvorgangs von Belaegen auf einem Arbeitsteil

Deposition layer thickness measurement device for use in monitoring the thickness of deposits during cleaning of liquid food production containers comprises a capacitive sensor whose resistance varies with the layer thickness.
 
: Endres, H.; Hammerl, E.; Drost, S.; Menner, M.; Pfeiffer, T.

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DE 2002-10228811 A: 20020627
DE 2002-10228811 A: 20020627
EP 2003-14623 A: 20030626
DE 10228811 A1: 20040129
EP 1376112 A1: 20040102
G01N0027
Deutsch
Patent, Elektronische Publikation
Fraunhofer IZM ()

Abstract
Eine Vorrichtung zum Erfassen einer Belagsaenderung umfasst einen Interdigital-Kondensator mit einer Aussenflaeche, auf der ein Belag abscheidbar ist, so dass eine Impedanz des Interdigital-Kondensators von dem abgeschiedenen Belag abhaengt. Eine Impedanzerfassungsvorrichtung erfasst Impedanzwerte des Interdigital-Kondensators, wobei die erfassten Impedanzwerte in einer Auswerteeinrichtung verwendet werden, um eine Indikatorgroesse zu berechnen, die auf eine zeitliche Aenderung des Belags hinweist.

 

EP 1376112 A UPAB: 20040213 NOVELTY - Device for measuring deposition thickness variations comprises the following: an inter-digital-capacitor (10) with an outer surface (30a) on which a coating can be deposited such that the capacitor impedance varies with the deposition layer thickness; an impedance measurement device; and an evaluation unit for indicating the change over time of the layer thickness. DETAILED DESCRIPTION - The invention also relates to a corresponding method for control of a cleaning method using an inventive deposition thickness measurement device. USE - Device for measuring thickness of a deposited layer, especially for use in the liquid food production industry, e.g. is pasteurization or brewing, where deposits build up on the surfaces of the production containers. ADVANTAGE - The inventive device provides a simple and accurate means for continuous monitoring of deposition layer thickness.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/PP-1427.html