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Title
Verfahren zur abschnittsweisen Bestimmung eines parameterabhaengigen Korrekturwertnaeherungsverlaufs und Sensoranordnung
Date Issued
2007
Author(s)
Hohe, H.-P.
Hackner, M.
Stahl-Offergeld, M.
Patent No
102007044471
Abstract
(A1) Ein Ausfuehrungsbeispiel eines Verfahrens zur abschnittsweisen Bestimmung eines parameterabhaengigen Korrekturwertnaeherungsverlaufs umfasst ein Bestimmen eines ersten Messsignalwerts bei einem einer Sensoranordnung zugeordneten ersten Parameterwert, wenn der erste Parameterwert eine vorbestimmte Bedingung erfuellt oder eine Ausloesebedingung erfuellt ist, ein Aendern des ersten Parameterwerts, um einen zweiten Parameterwert zu erhalten, ein Bestimmen eines zweiten Signalwerts bei dem zweiten Parameterwert und ein Ermitteln eines zweiten Teilabschnitts des Korrekturwertnaehrungsverlaufs fuer einen zweiten Parameterbereich, basierend auf einem dem zweiten Teilabschnitt beschreibenden funktionalen Zusammenhang, dem ersten Parameterwert, dem zweiten Parameterwert, dem ersten Messsignalwert, dem zweiten Messignalwert und einem Anfangskorrekturwert.
WO 2009036923 A1 UPAB: 20090423 NOVELTY - The method involves determining a measuring signal value by parameter value (S120), where parameter value is assigned to a sensor arrangement (S110), when the parameter value fulfills a predetermined condition or fulfills a triggering condition. The parameter values assigned to the sensor arrangement are changed (S130) to obtain another parameter value. Another measuring signal value is determined by another parameter value (S140). DETAILED DESCRIPTION - INDEPENDENT CLAIMS are included for the following: (1) a sensor arrangement, particularly hall sensor with a sensor element; and (2) a program with a program code for execution of method. USE - Method for determining parameter-dependent correction value approximation curve in sections for measuring signal correction of sensor arrangement (Claimed). ADVANTAGE - The method involves determining a measuring signal value by parameter value, where parameter value is assigned to a sensor arrangement, and hence ensures a simple calibration method and improved measuring accuracy.
Language
de
Patenprio
DE 102007044471 A: 20070918