Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Non-interferometric transient quantitative phase microscopy for ultrafast engineering

 
: Horn, A.; Mingareev, I.; Werth, A.; Kachel, M.; Brenk, U.

:

Applied physics. A 93 (2008), Nr.1, S.165-169
ISSN: 0340-3793
ISSN: 0721-7250
ISSN: 0947-8396 (Print)
ISSN: 1432-0630 (Online)
Englisch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer ILT ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-84459.html