Fraunhofer-Gesellschaft

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Simulationsgestützter Entwurf von Mess- und Prüfsystemen für Mikrosysteme

 
: Schneider, P.; Eichler, U.; Einwich, K.; Schwarz, P.

:
Volltext urn:nbn:de:0011-n-779537 (367 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: 1cc365c74d6d9ced216a3f281044831f
Erstellt am: 21.8.2008


Falter, B. ; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-:
10. GMM-Workshop Methoden und Werkzeuge zum Entwurf von Mikrosystemen 2004. Tagungsband : Mit dem Schwerpunkt Integration von Mikrosystemen - Methoden und Prozesse und den gemeinsamen Abschlussseminaren zu den BMBF-Verbundprojekten EIWOS, MODSYS, REMIKOS; 20. bis 22. Oktober 2004, Cottbus
Paderborn: FhG IZM - Advanced System Engineering, 2004
S.153-160
Workshop Methoden und Werkzeuge zum Entwurf von Mikrosystemen <10, 2004, Cottbus>
Deutsch
Konferenzbeitrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IIS, Institutsteil Entwurfsautomatisierung (EAS) ()
SystemC AMS

Abstract
Die Entwicklung neuer Mess- und Prüfsysteme kann durch rechnergestützte Entwurfsverfahren, vor allem durch Simulation und Optimierung, erheblich effektiviert werden. Die gemeinsame Modellierung von Messobjekt, Messgerät und (ggf. adaptiven) Signalverarbeitungsalgorithmen ermöglicht eine Gesamtsystemsimulation. Eine verwandte Methode wird in der Elektronik als virtueller Test bezeichnet. Der Einsatz von Werkzeugen wie MATLAB/SIMULINK und SystemC-AMS wird beschieben.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-77953.html