Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Low noise sigma-delta capacitance to digital converter for sub-pF capacitive sensors with integrated dielectric loss measurement

 
: Bingesser, M.; Hauer, J.; Mödl, S.; Dorn, R.; Völker, M.; Loelinger, T.; Hinn, W.

:

IEEE Computer Society; IEEE Council on Electronic Design Automation -CEDA-:
Design, Automation and Test in Europe, DATE 2008 : March 10-14, 2008, ICM, Munich, Germany
New York, NY: IEEE, 2008
ISBN: 978-3-9810801-3-1
S.868-872
Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE) <2008, München>
Englisch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IIS ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-77403.html