Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Analysis of the Reliability of Ferroelectric Field Effect Transistors in Combination with Crossbar Circuits for Neuromorphic Computing

 
: Hoffmann, Tudor
: Kämpfe, Thomas; Messaris, Ioannis

Dresden, 2020, XI, 104 S.
Dresden, TU, Dipl.-Arb., 2020
Englisch
Diplomarbeit
Fraunhofer IPMS ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-633367.html