Fraunhofer-Gesellschaft

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Single Event Effekte, eine Bedrohung im Weltraum und auf der Erde

Dr. Stefan Höffgen, Wissenschaftler Geschäftsfeld Nukleare Effekte in Elektronik und Optik, Fraunhofer INT
 
: Höffgen, Stefan

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Volltext (PDF; - Gesamtes Heft)

Proll, R. Uwe (Hrsg.) ; Behörden Spiegel-Gruppe, Bonn; Anwenderforum für Fernmeldetechnik, Computer, Elektronik und Automatisierung -AFCEA-, Bonn:
AFCEA 2020. Fraunhofer-Institut für Naturwissenschaftlich-Technische Trendanalysen INT
Bonn: Behörden Spiegel-Gruppe, 2020
ISBN: 978-3-934401-54-9
S.51-52
Deutsch
Aufsatz in Buch, Elektronische Publikation
Fraunhofer INT ()

Abstract
Unser Sonnensystem wird permanent von hochenergetischen Strahlen aus den Tiefen des Weltraums bombardiert. Diese kosmische Strahlung besteht aus hochionisierten Teilchen, welche in einem Bauteil derart viel Ladung erzeugen können, dass ein einziges dieser Teilchen ausreicht, um einen spürbaren Effekt in elektronischen Bauteilen auszulösen. Diese Effekte können im Ändern des Inhalts einer Speicherzelle bestehen, einem Upset (SEU). Sie können aber auch zur Zerstörung des Bauteils führen, wie dies bei einem Latchup (SEL), Burnout (SEB) oder Gate Rupture (SEGR) der Fall ist. Diese Effekte zu verstehen und die Elektronik dagegen zu härten ist von lebenswichtiger Bedeutung für jede Weltraummission.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-586414.html