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Title
Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Defekten in elektrischen Komponenten oder Baugruppen
Date Issued
2019
Author(s)
Patzold, Markus
Patent No
102017223501
Abstract
Bei einem Verfahren zur Detektion von Defekten in elektrischen Komponenten oder Baugruppen wird eine Abtasteinrichtung mit mehreren Magnetfeldsensoren eingesetzt, mit denen Magnetfeldkomponenten in drei zu einander senkrechten Raumrichtungen erfassbar sind. Bei einem Stromfluss durch die zu vermessende elektrische Komponente oder Baugruppe werden mit der Abtasteinrichtung die Magnetfeldkomponenten in den drei zueinander senkrechten Raumrichtungen als Funktion des Ortes gemessen und aufgezeichnet. Die aufgezeichneten Magnetfeldkomponenten werden zumindest teilweise ausgewertet, um Defekte in der elektrischen Komponente oder Baugruppe zu detektieren. Für die Auswertung wird vorzugsweise ein neuronales Netz eingesetzt. Das Verfahren und die zugehörige Vorrichtung ermöglichen eine berührungslose Detektion von Fehlern in elektrischen Komponenten oder Baugruppen, insbesondere im Bereich der Qualitätssicherung.
Language
de
Patenprio
DE 102017223501 A1: 20171221