Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Large-area layer counting of 2D materials via visible reflection spectroscopy

Poster presented at IMC19, 19th International Microscopy Congress, September 9 - 14, 2018, Sydney, Australia
 
: Hutzler, Andreas; Matthus, C.D.; Dolle, C.; Rommel, M.; Jank, M.P.M.; Spiecker, E.; Frey, L.

:
Poster urn:nbn:de:0011-n-5153236 (1.4 MByte PDF)
MD5 Fingerprint: 9dc0253bb1895674dc53edc84a8ac342
Erstellt am: 24.10.2018


2018, 1 Folie
International Microscopy Congress (IMC) <19, 2018, Sydney>
Deutsche Forschungsgemeinschaft DFG
GRK1896
In situ microscopy with electrons, X-rays and scanning probes
Englisch
Poster, Elektronische Publikation
Fraunhofer IISB ()
graphene oxide; silicon; dielectric optical stack; reflectivity; modelling; detection; layer counting

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-515323.html