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Kennlinienmethode zur DC-Fehlerdiagnose integrierter Analogschaltungen

 
: Claus, M.; Reibiger, A.; Coym, T.; Straube, B.

Elst, G. ; Informationstechnische Gesellschaft -ITG-; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-; Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen -IIS-, Außenstelle Entwurfsautomatisierung -EAS-, Dresden:
ANALOG '06. Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden mit dem Schwerpunkt Fertigungsgerechter und ausbeuteorientierter Entwurf robuster nanoelektronischer Schaltungen : Vorträge der 9. ITG/GMM-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2006 in Dresden
Berlin: VDE-Verlag, 2006 (ITG-Fachbericht 196)
ISBN: 978-3-8007-2988-3
ISBN: 3-8007-2988-1
S.51-56
Fachtagung Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (ANALOG) <9, 2006, Dresden>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IIS, Institutsteil Entwurfsautomatisierung (EAS) ()

Abstract
In diesem Beitrag wird eine netzwerktheoretisch fundierte Kennlinienmethode zur DC-Fehlerdiagnose von integrierten Analogschaltungen vorgestellt. Wir beschränken uns auf den Fall, dass man die zu untersuchende Schaltung und deren Defekte mit hinreichender Genauigkeit durch resistive Netzwerke nachbilden kann. Defekte werden dabei durch ein allgemeines Fehlermodell nachgebildet, wobei zwischen linearen und nichtlinearen Fehlermodellen nicht unterschieden werden muß. Mit Hilfe der entwickelten Eingangskennlinienmethode können Fehler in resistiven Netzwerken lokalisiert und effizient identifiziert werden.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-47091.html