Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Investigation of residual dislocations in VGF-grown Si-doped GaAs

 

:

Journal of Crystal Growth 276 (2005), Nr.3-4, S.335-346
ISSN: 0022-0248
Englisch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer IISB ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-46484.html