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Incoming control of silicon wafers - detection and rating of micro-cracks

Presentation held at 12. Workshop "SiliconFOREST" 2016, Falkau, Germany, 14.02.2016-17.02.2016

Präsentation urn:nbn:de:0011-n-4589723 (1.4 MByte PDF)

MD5 Fingerprint: 5f4b52152c6ae7fcb54e916f777bd77e

Erstellt am: 12.8.2017

	2016, 29 Folien Workshop "SiliconFOREST" <12, 2016, Falkau>

	Englisch
	Vortrag, Elektronische Publikation
	Fraunhofer ISE ()
	PV Produktionstechnologie; Qualitätssicherung; Photovoltaik; Silicium-Photovoltaik; Messtechnik und Produktionskontrolle; wafer; micro-crack; strength; breakage; inspection