Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Incoming control of silicon wafers - detection and rating of micro-cracks

Presentation held at 12. Workshop "SiliconFOREST" 2016, Falkau, Germany, 14.02.2016-17.02.2016
 
: Demant, M.; Welschehold, T.; Oswald, M.; Bartsch, S.; Schönfelder, S.; Rein, S.

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Präsentation urn:nbn:de:0011-n-4589723 (1.4 MByte PDF)
MD5 Fingerprint: 5f4b52152c6ae7fcb54e916f777bd77e
Erstellt am: 12.8.2017


2016, 29 Folien
Workshop "SiliconFOREST" <12, 2016, Falkau>
Englisch
Vortrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer ISE ()
PV Produktionstechnologie; Qualitätssicherung; Photovoltaik; Silicium-Photovoltaik; Messtechnik und Produktionskontrolle; wafer; micro-crack; strength; breakage; inspection

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-458972.html