Fraunhofer-Gesellschaft

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Echtzeit Multi Focus Scanning

 
: Ganster, Michael; Theado, Hendrik; Schwender, Thomas

:
Volltext urn:nbn:de:0011-n-4523732 (844 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: fd26e899752425085cde18a972cead3f
Erstellt am: 10.6.2017


Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. -DGZfP-, Berlin:
Zerstörungsfreie Materialprüfung. DGZfP-Jahrestagung 2017 : 22. - 24. Mai 2017, Koblenz
Berlin: DGZfP, 2017 (DGZfP-Berichtsbände 162)
Paper P45, 2 S.
Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (DGZfP Jahrestagung) <2017, Koblenz>
Deutsch
Abstract, Poster, Elektronische Publikation
Fraunhofer IZFP ()

Abstract
Bei der fokussierenden Ultraschall-Phased-Array-Prüfung werden die Einzelsignale der Array-Elemente elektronisch derart phasenverzögert, dass sich bei ihrer Addition eine konstruktive Überlagerung für Ultraschallsignale aus der gewünschten Region ergibt und somit eine maximale Prüfempfindlichkeit für diesen Ort erreicht wird. Da in der realen Prüfsituation die Lage von Fehlstellen beliebig sein kann, muss u.U. an mehreren Orten fokussiert werden, um alle potentiell möglichen Anzeigen mit einer der Anforderung genügenden Empfindlichkeit darzustellen. Dies kann z.B. durch mehrere aufeinanderfolgende Prüftakte mit jeweils unterschiedlichen Fokuspunkten geschehen, deren Daten in der Nachbearbeitung zu einem Prüfergebnis über die gesamte Bauteiltiefe zusammengefasst werden. In der industriellen, automatisierten Prüfung, wo besonders die Prüfgeschwindigkeit von hoher Bedeutung ist, stößt diese Methode allerdings schnell an ihre Grenzen. Mit der am IZFP entwickelten Methode des Multi Focus Scanning wird diese Geschwindigkeitsbeschränkung durch hardwareimplementierte Echtzeitverarbeitung aufgehoben. Multi Focus Scanning erlaubt innerhalb eines einzigen Prüftaktes die Fokussierung auf gleich mehrere Fokuspunkte. Die Verarbeitung erfolgt dabei bereits unmittelbar nach der Datenaufnahme innerhalb der Prüfhardware und dadurch ohne nennenswerten Zeitverlust gegenüber einem konventionell fokussierten Phased-Array-Prüftakt. Zeitgleich besteht die Möglichkeit, die Apertur des Prüfkopfes dynamisch zu verändern, so dass für prüfkopfnahe Fokuspunkte zunächst nur eine kleine Apertur wirksam wird, welche mit fortschreitender Ultraschallaufzeit bis zur maximalen Anzahl an Array-Elementen erhöht werden kann. Die Kombination von dynamischer Fokussierung und variabler Apertur ermöglicht die Phased-Array-Prüfung mit maximaler Empfindlichkeit über die gesamte Bauteiltiefe bei gleichzeitig hoher Prüfgeschwindigkeit. Multi Focus Scanning ist verfügbar für alle neuen Mehrkanalsysteme des Typs ETHUS, sowie als Firmware-Update für bestehende Systeme dieses Typs.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-452373.html