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Title
Verfahren zur Messung der Oberflaechenrauheit von Werkstuecken sowie Geraet zu seiner Durchfuehrung
Date Issued
1987
Author(s)
Breitmeier, U.
Rueff, M.
Patent No
1985-3532690
Abstract
Ein Geraet zur beruehrungslosen Messung der Rauheit einer Werkstueckoberflaeche (14) hat einen Messkopf (10), welcher ein Beleuchtungslichtbuendel (12) auf die Werkstueckoberflaeche (14) abbildet und ein von dieser zurueckgeworfenes Messlichtbuendel (18) auf einen photoelektrischen Wandler (40) abbildet, welcher eine Mehrzahl matrixartig angeordneter Wandlerelemente aufweist. Ein Kompressionskreis (70) setzt das von zwei Ortskoordinaten abhaengige Ausgangssignalpaket des Wandlers (40) in eine eindimensionale Signalfolge um, und fuer letztere wird in einem Fraktalrechenkreis (74) ein Fraktalsignal berechnet. Ein Adressrechenkreis (80) setzt letzteres in ein Adressiersignal um, mit welchem aus einem Kennlinienspeicher (78) ein zugehoeriges Rauheitssignal ausgelesen wird.
DE 3532690 A UPAB: 19930922 The measurement head (10) forms an image of the workpiece surface (14) using an illumination beam (14). A measuring beam (18) is reflected back from the surface on to a photo-electric transducer (40) having elements arranged in a matrix. A compression circuit (70) converts the combined output signal from the transducer (40) dependent on two position coordinates into a unidimensional signal sequence. Finally, a fractional signal is computed in a circuit. An address computer circuit (80) converts the latter to an address signal which, in conjunction with a characteristic curve from a graph storage (78) enables an associated roughness signal to be read off. ADVANTAGE - Measurement process is unresponsive to sec. light. 1/9
Language
de
Patenprio
DE 1985-3532690 A: 19850913