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Multiskalige Oberflächeninspektion mit Wavelets und Deflektometrie

Multiscale surface inspection using wavelets and deflectometry
 
: Greiner, T.; Le, T.-T.; Ziebarth, M.; Heizmann, M.

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Technisches Messen : TM 83 (2016), Nr.11, S.617-627
ISSN: 0340-837X
ISSN: 0171-8096 (Print)
ISSN: 2196-7113 (Online)
Deutsch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer IOSB ()
Oberflächeninspektion; Deflektometrie; Wavelets; Multiskalenanalyse; surface inspection; deflectometry; multiscale analysis

Abstract
Für die Inspektion von spiegelnden Oberflächen ist die Deflektometrie eine der bekanntesten Methoden. Eine automatische Defektdetektion, Klassifikation und Bewertung der Daten von deflektometrischen Messungen gibt es allerdings noch nicht. In diesem Artikel werden neue Methoden basierend auf der Wavelet-Analyse vorgestellt, die in der Lage sind, Fehler in unterschiedlichen Skalen zu erkennen. Um die Erkennungsrate zu erhöhen, werden die Filterbänke in Hinsicht auf Eigenschaften gegebener Defektklassen sowie an dominante Merkmalsausdehnungen optimiert. Die Verfahren wurden mit realen Messdaten evaluiert, bei denen verschiedene Defektklassen auftraten.

 

For the inspection of specular surfaces, deflectometry is one of the most popular methods. However, there is still no method for automated detection of defects, classification and evaluation of the data from deflectometric measurements. In this paper new methods based on wavelet analysis are introduced, which are able to detect defects at different scales. For better recognition rates the filter banks are optimized on given defect classes as well as on dominant feature sizes. The methods are evaluated with real data of various defect classes.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-438909.html