Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Profiling IEC 61850. Explained on a practical example of ENTSO-E

Presentation held at DistribuTECH Conference & Exhibition, San Diego, California, 03-05 February 2015
 
: Brunner, Christoph; Huon, Gregory; Naumann, André

:
Präsentation urn:nbn:de:0011-n-4107884 (1.9 MByte PDF)
MD5 Fingerprint: 955ef1f8cddd21751f5979759762e1a9
Erstellt am: 13.9.2016


2015, 17 Folien
DistribuTECH Conference & Exhibition <2015, San Diego/Calif.>
Englisch
Vortrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IFF ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-410788.html