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Title
Verfahren zum Charakterisieren von Mikrowellenbauelementen
Date Issued
2016
Author(s)
Seelmann-Eggebert, Matthias
Patent No
102014119331
Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Charakterisieren von Mikrowellenbauelementen, insbesondere zum Kalibrieren von Netzwerkanalysatoren zur kalibrierten Messung von elektronischen Mikrowellenbauelementen, welches Verfahren folgende Verfahrensschritte umfasst: A Messen von S-Parametern einer Anzahl N von Kalibrationsstandards, welche Anzahl N von Kalibrationsstandards grösser ist als für eine analytische Bestimmung der durch die Kalibration ermittelbaren Kalibrationsparameter notwendig; B Berechnen der Kalibrationsparameter abhängig von den gemessenen S-Parametern der Kalibrationsstandards.; Wesentlich ist, dass das Berechnen der Kalibrationsparameter in Verfahrensschritt B auf der Grundlage eines Gleichungssystems abhängig von vorgegebenen SKal-Parametern der Kalibrationsstandards erfolgt, und in einem Verfahrensschritt C nach dem Verfahrensschritt B ein Gütekriterium der Kalibrationsparameter bestimmt wird.
Language
de
Patenprio
DE 102014119331 A1: 20141222