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Verfahren zur Spektrometrie und Spektrometer

 
: Molter, Daniel; Ellrich, Frank

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DE 102014113354 A1: 20140916
Deutsch
Patent, Elektronische Publikation
Fraunhofer IPM ()

Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Spektrometrie an einer Probe mit den Schritten, Bereitstellen der Probe in Form einer chemischen Substanz zwischen mindestens zwei flächigen Abschnitten aus einem Verpackungsmaterial, Bestrahlen der Probe mit elektromagnetischer Strahlung und einer Mehrzahl von Frequenzen oder einem Frequenzband aus einem Frequenzbereich von 1 GHz bis 30 THz, wobei die elektromagnetische Strahlung unter einem Einfallswinkel [alpha] auf einen der flächigen Abschnitte aus Verpackungsmaterial auftrifft, und frequenzaufgelöstes Erfassen eines Masses für die Intensität der unter dem Einfallswinkel auf die Probe gestrahlten und durch die Probe transmittierten oder von der Probe reflektierten elektromagnetischen Strahlung als ein Spektrum.; Dabei hat es sich herausgestellt, dass selbst dann, wenn die in einer Verpackung enthaltene Substanz ein charakteristisches Spektrum in dem genannten Frequenzbereich aufweist, die Substanzen sich nicht immer eindeutig identifizieren lassen, da die Verpackung selbst zu Merkmalen, insbesondere Extinktionsmerkmalen, im Spektrum führt, welche die charakteristischen Absorptionen der eigentlichen chemischen Substanz überlagern. Dem gegenüber ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur Spektrometrie an einer chemischen Substanz in einer mehrlagigen Struktur sowie ein Spektrometer bereitzustellen, welche die Eindeutigkeit der Identifizierung einer chemischen Substanz in einer mehrlagigen Struktur anhand ihres Spektrums in dem genannten Frequenzbereich oder einem Ausschnitt daraus verbessern.; Zur Lösung dieser Aufgabe wird vorgeschlagen ein aus dem Stand der Technik bekanntes Verfahren derart weiterzuentwickeln, dass für den Einfallswinkel [alpha] der elektromagnetischen Strahlung gilt [Theta]B - 15 DEG <= [alpha] <= [Theta]B + 15 DEG , wobei [Theta]B der Brewster-Winkel des Verpackungsmaterials bei einer Frequenz aus dem Frequenzbereich ist.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-389424.html