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SystemC AMS basierte V&V-Methodik in der Mikrosystemtechnik

 
: Ehrlich, Paul; Schulz, Stephan

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Postprint urn:nbn:de:0011-n-3668313 (838 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: a306ae56301c34427fc385d362067445
Erstellt am: 24.11.2015

Poster urn:nbn:de:0011-n-366831-12 (1.0 MByte PDF)
MD5 Fingerprint: cd3c9a801924234653f49cbf0651031c
Erstellt am: 24.11.2015


Saile, Volker (Chairman) ; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-:
MEMS, Mikroelemente, Systeme. Proceedings CD-ROM : MikroSystemTechnik Kongress 2015, 26. - 28. Oktober 2015 in Karlsruhe
Berlin: VDE-Verlag, 2015
ISBN: 978-3-8007-4100-7
S.712-715
MikroSystemTechnik Kongress <6, 2015, Karlsruhe>
Deutsch
Konferenzbeitrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IIS, Institutsteil Entwurfsautomatisierung (EAS) ()

Abstract
Cyber Physical Systems gewinnen immer mehr an Bedeutung, was nicht zuletzt an dem enormen Wachstum der Integrationsfähigkeit und Miniaturisierung von Sensoren in Silizium bzw. anderen Materialien begründet ist. Der Komplexitätsanstieg des Gesamtsystems und die damit verbundenen höheren Entwicklungskosten haben zur Folge, dass eine abstraktere Modellierung sowie neue Testmethoden benötigt werden. Im Paper werden diese neuen Methodiken an einem Beispiel eines cyber-physikalischen Sensorknotens veranschaulicht. Dabei wird der Knoten mit SystemC AMS modelliert, einer Analog-Erweiterung von SystemC, welches den Einsatz von Komponenten anderer Domains ermöglicht wie z.B. der Mechanik. Diese abstrakten Modelle ermöglichen dabei nicht nur den Einstieg in die Algorithmen/Steuerungsentwicklung der zukünftigen Prototypen, sondern auch dessen Verifikation, um Designfehler möglichst frühzeitig zu erkennen.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-366831.html