Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Defect Luminescence Scanner (DLS): Scientific and industrial-scale defect analysis

Presentation held at International Conference on Silicon Carbide and Related Materials, ICSCRM 2015, Giardini Naxos, Italy, October, 4th - 9th, 2015
 
: Oppel, Steffen; Schneider, Adrian; Schütz, Michael; Kaminzky, Daniel; Kallinger, Birgit; Weber, Jonas; Krieger, Michael

:
Präsentation urn:nbn:de:0011-n-3640887 (646 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: 70b2329ba9b17f4be3d2120eb2e6c6f6
Erstellt am: 20.10.2015


2015, 14 Folien
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM) <16, 2015, Giardini Naxos>
Bayerische Forschungsstiftung BFS
AZ-1028-12; SiC-WinS
Englisch
Vortrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IISB ()
photoluminescence; defects; Silicon Carbide (SiC); defect luminescence scanner

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-364088.html