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Simulation von Oberflächenveränderungen und -defekten zur Bestimmung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit (POD)

 
: Rauhut, Markus; Hirschenberger, Falco; Spies, Martin

:
Volltext urn:nbn:de:0011-n-3605996 (1.4 MByte PDF)
MD5 Fingerprint: 9b66a725b09d7cdd8f654217ee731e14
Erstellt am: 9.10.2015


Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. -DGZfP-, Berlin:
ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung. DGZfP-Jahrestagung 2015 : Zerstörungsfreie Materialprüfung; 11.-13.05.2015, Salzburg
Berlin: DGZfP, 2015 (DGZfP-Berichtsbände 152)
Paper Mi.2.C.2, 22 S.
Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (Jahrestagung) <2015, Salzburg>
Deutsch
Konferenzbeitrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IZFP ()
Fraunhofer ITWM ()

Abstract
Bei optischen Prüfsystemen entscheidet das Erreichen der vom Endanwender vorgegebenen Detektionsrate und die Auffindwahrscheinlichkeit darüber, ob ein solches System in der Praxis einsetzbar ist. Eine Möglichkeit, diese Parameter quantitativ zu bestimmen, bieten â versus a-Analysen zur Bestimmung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit (englisch:Probability of Detection, POD). Die POD-Analyse erlaubt, die sicher detektierbaren minimalen Fehlergrößen quantitativ zu berechnen. Eine Möglichkeit, die POD-Analyse für optische Systeme zu evaluieren, ist die Simulation von Oberflächendefekten mittels Raytracing. Die bereits am Fraunhofer ITWM entwickelte Simulation von Rissen auf flachen Bauteilen wurde um realistischere Bauteile (Zylinder) erweitert. Das einfache Lochkameramodell wurde durch ein realistisches Kameramodell mit Linsensystem erweitert. Die so erzeugten Bilddaten ermöglichen eine POD-Analyse auf Basis einer großen Anzahl von Defekten wenn noch eine Abdeckungsanalyse hinzugenommen wird.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-360599.html