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Prozessoptimierung und Produktprüfung von QFN-Bauteilen mit dem iForce-Stressmesschip

	Lang, K.-D. ; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-; Deutscher Verband für Schweißen und Verwandte Verfahren e.V. -DVS-: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2014 : Von Hochstrom bis Hochintegration; Vorträge der 7. DVS/GMM-Tagung in Fellbach am 11. und 12. Februar 2014 Düsseldorf: DVS Media, 2014 (DVS-Berichte 301) ISBN: 978-3-87155-573-2 S.148-153
	Tagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) <7, 2014, Fellbach>

	Deutsch
	Konferenzbeitrag
	Fraunhofer IZM ()