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2014
Presentation
Titel
Hohe Lebensdauer durch hohe Temperatur
Titel Supplements
Präsentation auf dem Leistungselektronik Kolloquium (Cluster Leistungselektronik), 17.03.2014
Alternative
High lifetime by increased temperatures
Abstract
Aktive Lastwechseltests (Power Cycling) wurden mit Silizium-Carbid Dioden bei verschiedenen Kühlmitteltemperaturen Tj,min von 40 120 °C durchgeführt. Unter diesen Bedingungen wurde die Silber-Sintertechnologie mit Hochblei- und Gold-Germanium-Loten verglichen. Das Ergebnis zeigte, dass bei der höchsten Kühlmitteltemperatur von 120°C die größte Lastwechselzahl erreicht wurde. In dem Vortrag werden die Ergebnisse der Testreihen vorgestellt und eine mögliche Erklärung für dieses Verhalten diskutiert.
Konferenz