Fraunhofer-Gesellschaft

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Hohe Lebensdauer durch hohe Temperatur

Präsentation auf dem Leistungselektronik Kolloquium (Cluster Leistungselektronik), 17.03.2014
High lifetime by increased temperatures
 
: Hutzler, Aaron

:
Präsentation urn:nbn:de:0011-n-3451725 (3.2 MByte PDF)
MD5 Fingerprint: 3f8f257f55ce0d80dd263bd7d9d93aac
Erstellt am: 16.7.2015


2014, 35 Folien
Leistungselektronik-Kolloquium <2014, Erlangen>
Deutsch
Vortrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IISB ()
Aktiver Lastwechsel; Kühlmitteltemperatur; Hochtemperatur; Lebensdauer; Zuverlässigkeit

Abstract
Aktive Lastwechseltests (Power Cycling) wurden mit Silizium-Carbid Dioden bei verschiedenen Kühlmitteltemperaturen Tj,min von 40 120 °C durchgeführt. Unter diesen Bedingungen wurde die Silber-Sintertechnologie mit Hochblei- und Gold-Germanium-Loten verglichen. Das Ergebnis zeigte, dass bei der höchsten Kühlmitteltemperatur von 120°C die größte Lastwechselzahl erreicht wurde. In dem Vortrag werden die Ergebnisse der Testreihen vorgestellt und eine mögliche Erklärung für dieses Verhalten diskutiert.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-345172.html