Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Imaging defect luminescence of 4H-SiC by UV-photoluminescence

Presentation held at GMM Fachgruppentreffen, 04. März 2015, Erlangen
 
: Kaminzky, Daniel; Roßhirt, Katharina; Kallinger, Birgit; Berwian, Patrick; Friedrich, Jochen; Oppel, Steffen; Schneider, Adrian; Schütz, Michael

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Präsentation urn:nbn:de:0011-n-3366932 (764 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: 7432580636ad0b5d4ebc4f4285325d8f
Erstellt am: 21.4.2015


2015, 13 Folien
VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik (Fachgruppentreffen) <2015, Erlangen>
Bayerische Forschungsstiftung BFS
AZ-1028-12; SiC-WinS
Englisch
Vortrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IISB ()
semiconductor; silicon carbide; defects; photoluminescence

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-336693.html