Fraunhofer-Gesellschaft

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Reinheit von Produkten und Bauteilen 1

 
: Rochowicz, Markus

Verl, Alexander (Hrsg.); Bauernhansl, Thomas (Hrsg.) ; Stuttgarter Produktionsakademie:
Fertigen unter reinen Bedingungen : Grundlagen, Praxis und Anregungen zur Qualitätssteigerung. Seminar, 25. und 26. November 2014, Stuttgart
Stuttgart, 2014 (Seminar SPA 142)
35 Folien
Seminar "Fertigen unter Reinen Bedingungen" <2014, Stuttgart>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IPA ()
Partikelmesstechnik; Reinigungsvalidierung; Reinheit

Abstract
Zur Prüfung der Reinheit von Produkten und Bauteilen können je nach Branche, Verunreinigung (Art, Größe und Menge) und Bauteilgestallt bzw. Bauteiloberfläche die unterschiedlichsten Inspektionsmethoden eingesetzt werden. Von der direkten Inspektion mit Auge oder Mikroskop, die nur an lokal begrenzten und direkt zugänglichen Bauteilbereichen möglich ist, bis hin zur Erfassung kompletter Bauteile (innen und außen) mit indirekten Methode. Indirekt bedeutet in diesem Zusammenhang, dass die Verunreinigung vor der eigentlichen Messung zunächst von der Bauteiloberfläche getrennt wird, man spricht hierbei von Probenahme oder Extraktion. Hierfür gibt es die verschiedensten Möglichkeiten von der Extraktion über Absaugen oder Abblasen mit Luft bis hin zum Abklatsch von Mikroorganismen mit geeigneten Nährmedium-Trägern. Die Extraktion mit Flüssigkeiten hat in den letzten Jahren eine sehr große Bedeutung in der Automobilindustrie erlangt und wird im Vortrag "Reinheit von Produkten und Bauteilen 2" gesondert behandelt.
Ist weder eine direkte noch eine indirekte Messung von Verunreinigungen möglich können sog. Ersatzoberflächen eingesetzt werden. Das sind spezielle Träger oder Oberflächen, die anstelle des Bauteils durch die Produktion geschleust werden und auf denen anschließend eine einfache Sauberkeitsmessung möglich ist. Diese Messung kann bspw. in der Reinraumtechnik oder Mikroelektronikfertigung mit Silizium-Wafern erfolgen oder in der konventionellen Produktionsumgebung mit sog. Partikelfallen, die mit automatisierten Mikroskopen ausgezählt werden können.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-332188.html