Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Reliability studies of GaN high electron mobility transistors

 
: Cäsar, M.
: Ambacher, O.; Schwierz, F.

Freiburg/Brsg., 2014, 176 S.
Freiburg/Brsg., Univ., Diss., 2014
Englisch
Dissertation
Fraunhofer IAF ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-315849.html