Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Sensoren in der zerstörungsfreien Prüfung

Miniaturisierung und Systemintegration zur Erschließung neuer Fähigkeiten
 
: Dobmann, G.

Kohl, C.D. ; Informationstechnische Gesellschaft -ITG-; VDI/VDE-Gesellschaft Meß- und Automatisierungstechnik -GMA-, Düsseldorf:
Sensoren und Mess-Systeme 2002 : Vorträge der 11. ITG/GMA-Fachtagung, 11.-12. März 2002 in Ludwigsburg
Berlin: VDI-Verlag, 2002
ISBN: 3-8007-2675-0
S.21-24
ITG/GMA-Fachtagung "Sensoren und Mess-Systeme" <11, 2002, Ludwigsburg>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IZFP ()
Sensor; zerstörungsfreie Prüfung

Abstract
Die zerstörungsfreie Prüfung von Werkstoffen und Bauteilen nutzt für Ihre Aufgabe jede verfügbare physikalische Energiewechselwirkung und erfasst und interpretiert die antwort des Werkstoffes auf diese Wechselwirkung. Zur Enegrieeinbringung und zur Erfassung der Wechselwirkung bedarf sie sowohl der Signalgeber als auch der Signalaufnehmer - in der ZFP nennt man sie Prüfköpfe. Die Sensortechnologie verstand unter einem Sensor lange Zeit nur einen Messwertaufnehmer. Er sollte Größen wie Weg, Winkel, Dicke, Druck, Durchfluss, Volumen, Gleichwindigkeit, Kraft, Drehmoment, Leistung, Beschleunigung, Vibration, Schock, Temperatur, Feuchte, Leitfähigkeit, Dehnung und Spannung messen können. Allenfalls bei den beiden zuletzt genannten beiden Größen war ein direkter Bezug zur ZFP gegeben, was die Schwierigkeit deutlich macht, ihre Prüfköpfe unter den Sensoren einzuordnen. Der Sensorbegriff hat in den letzten Jahren durch Technologieentwicklung einen Paradigmenwechsel erfahren. Vom reinen analogen Messwertaufnehmer, der die oben genannten Messgrößen in elektrische Signale wandelt, ist er durch Integration von Digitalelektronik und Signalverarbeitung zum "intelligenten" Sensor geworden (chip on the sensor - sensor on the chip). Beim "smarten" Sensor beinhaltet die Signalverarbeitung auch Rechenleistung, wobei mit dem Ergebnis ein Stellglied gesteuert wird - Sensor und Aktuator sind eins.
Die ZFP gewinnt Vorteile aus dieser mit der Miniaturisierung, Reduzierung der elektrischen Leistung und des Preises der Mikroelektronik einhergehender Technologieentwicklung. Zunehmend kann die gesamte Systemelektronik oder Teile davon in den Prüfkopf integriert werden. Damit ist eine neue Generation von Geräten und Systemen der ZFP schon verfügbar. Bzw. ist ihre Entwicklung absehbar. Der Beitrag stellt solche Systeme vor und diskutiert ihre erweiterten Fähigkeiten verglichen mit dem bisherigen Stand der Technik.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-31535.html