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Title
Optikanordnung und Verfahren zur optischen Abtastung einer Objektebene mit einmem Mehrkanalabbildungssystem
Date Issued
2012
Author(s)
Brückner, Andreas
Berlich, René
Bräuer, A.
Patent No
102012200903
Abstract
Eine Optikanordnung umfasst ein Mehrkanalabbildungssystem zur optischen Abtastung einer Objektebene in in der Objektebene aneinandergrenzenden oder überlappenden Gesichtsfeldern einer Mehrzahl von optischen Kanälen des Mehrkanalabbildungssystem und einen Wellenleiter, der zwischen der Objektebene und dem Mehrkanalabbildungssystem angeordnet ist, um Licht im Wellenleiter lateral zu führen, wobei der Wellenleiter eine Mehrzahl von Umlenkstrukturen aufweist, die auf einer der Objektebene zugewandten Seite und/oder auf einer dem Mehrkanalabbildungssystem zugewandten Seite des Wellenleiters angeordnet sind, wobei die Umlenkstrukturen in Totzonen zwischen den Gesichtsfeldern der optischen Kanäle angeordnet sind, und wobei die Umlenkstrukturen ausgelegt sind, um das geführte Licht in Richtung der Objektebene abzulenken, so dass die Objektebene beleuchtet wird.
An optical arrangement comprises a multichannel imaging system for optically scanning an object plane in fields of view, which adjoin one another or overlap in the object plane, of a plurality of optical channels of the multichannel imaging system and a waveguide, which is arranged between the object plane and the multichannel imaging system in order to guide light laterally in the waveguide, wherein the waveguide has a multiplicity of deflection structures, which are arranged on a side facing the object plane and/or on a side facing the multichannel imaging system, which sides are part of the waveguide, wherein the deflection structures are arranged in dead zones between the fields of view of the optical channels, and wherein the deflection structures are configured to deflect the guided light in the direction of the object plane such that the object plane is illuminated.
Language
de
Patenprio
DE 102012200903 A1: 20120123