Fraunhofer-Gesellschaft

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Röntgenstrukturanalyse von GaN/Al(x)Ga(1-x)N-Heterostrukturen auf Silizium

Structural characterization of GaN/Al(x)Ga(1-x)N-heterostructures of silicon with high-resolution X-ray diffraction
 
: Ekeris, W. van

Freiburg/Brsg., 2013, 88 S.
Freiburg/Brsg., Univ., Master Thesis, 2013
Deutsch
Master Thesis
Fraunhofer IAF ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-261239.html