Fraunhofer-Gesellschaft

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Prozessorientierte Kontaminationskontrolle auf technischen Oberflächen mittels eines NIR-LED-Photodiodensystems

In-situ-detection of contamination on technical surfaces using a miniaturised NIR-LED-photodiode-system
 
: Modrich, K.-U.

Stuttgarter Messe- und Kongreß-Gesellschaft, Stuttgart:
Vision 2004 : 17. Internationale Fachmesse für Industrielle Bildverarbeitung und Identifikationstechnologien, 19.-21.10.2004, Stuttgart
Stuttgart, 2004
Internationale Fachmesse für Industrielle Bildverarbeitung und Identifikationstechnologien (VISION) <17, 2004, Stuttgart>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IPA ()
Meßtechnik; measurement; Sauberkeit; Prozeßintegration; In-Situ-Prüfung; technische Oberfläche; technical surface; near infrared sensor system (NIR); Sensorintegration; Kontamination; Prüftechnik

Abstract
Bei dem am Fraunhofer IPA entwickelten System handelt es sich um ein auf Basis der Nahinfrarot-Spektroskopie miniaturisiertes NIR-LED-Photodiodensystem mit elektronischem Filter zur Eliminierung des Umgebungslichts, welches prozessintegriert Messungen durchführt. Es können sowohl punktuelle als auch laterale Messungen durchgeführt werden. Resultierend aus dem erarbeiteten Lösungskonzept und den entwickelten Teilsystemen wurde eine Versuchseinrichtung realisiert. Durch den implementierten Auswertealgorithmus und die flexible Funktionalität kann die Versuchseinrichtung als Basiswerkzeug für die Sensorauslegung im Vorfeld benutzt werden. Auf Basis dieser Methode wurde ein Handgerät entwickelt mit dem sowohl partikuläre als auch filmische Kontaminationen detektiert werden können.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-25841.html