Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

EMUS-Phased-Array-Anwendungen in Kombination mit dem Adaptersystem "EMUS-VG"

 
: Niese, Frank; Both, Norbert; Rick, Rainer

:
Volltext urn:nbn:de:0011-n-2524888 (634 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: bf5fc14dec8d6c04f274dbabbd3ec2d8
Erstellt am: 6.8.2013


Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. -DGZfP-, Berlin:
ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung. DGZfP-Jahrestagung 2013. CD-ROM : Zerstörungsfreie Materialprüfung, 6. - 8. Mai 2013, Dresden
Berlin: DGZfP, 2013 (DGZfP-Berichtsbände 141-CD)
ISBN: 978-3-940283-49-8
Paper Mo.3.B.3
Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (Jahrestagung) <2013, Dresden>
Deutsch
Konferenzbeitrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IZFP ()
EMUS; phased array

Abstract
Phased-Array Anwendungen in der Ultraschalltechnik sind seit langem bekannt und werden für die unterschiedlichsten Prüfaufgaben eingesetzt. Auch mit elektromagnetischen Ultraschall (EMUS) Prüfköpfen kann und wird diese Technik seit Jahren insbesondere bei der Prüfung von austenitischen und bimetallischen Schweißnähten dickwandiger Komponenten erfolgreich eingesetzt.
Am Fraunhofer IZFP wurde das Adaptersystem "EMUS-VG" entwickelt, das es erlaubt EMUS-Prüfköpfe mit einem konventionellen US-Gerät zu betreiben. Dadurch kann die EMUS-Technik mit deutlich geringeren Kosten für verschiedenste Prüfaufgaben eingesetzt werden.
In diesen Beitrag werden EMUS-PA Anwendungen vorgestellt, die in Kombination mit dem oben genannten „EMUS-VG" und einem konventionellen Ultraschall-Phased-Array-Gerät erzielt wurden.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-252488.html