Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

HNDT solution for MEMS testing on wafer level

 
: Aswendt, P.; Schmidt, C.-D.; Zielke, D.; Schubert, S.

Osten, W.:
4th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns 2001. Proceedings : Held in Bremen, Germany, September 17-19, 2001
Paris: Elsevier, 2001
ISBN: 2-84299-318-7
S.79-85
International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns (Fringe) <4, 2001, Bremen>
Englisch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IWU ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-24510.html