Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Rasterelektronenmikroskopie - eine "Querschnitts"-Technologie mit Potenzial

Mit weiterentwickelten REM-Techniken Beschichtungen in ihren Details erfassen
 
: Hilt, Michael; Nothhelfer-Richter, Rolf

Besser lackieren! Die Oberflächen-Zeitung 14 (2012), Nr.11, S.8
ISSN: 1439-409X
Deutsch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer IPA ()
Rasterelektronenmikroskopie; Beschichtung

Abstract
Mit neuen Techniken lässt sich die Nutzung der klassischen Rasterelektronenmikroskopie zur Analyse organischer Beschichtungen enorm erweitern. Insbesondere eröffnet sich damit der bisher nur schwierig zugängliche Größenbereich der nanoskaligen Beschichtungsbestandteile.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-208346.html