Fraunhofer-Gesellschaft

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Nachweis verdeckter rissartiger Fehlstellen mittels induktiv angeregter Thermografie

 
: Walle, Günter; Stumm, C.; Valeske, Bernd; Netzelmann, Udo

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Volltext urn:nbn:de:0011-n-2039444 (315 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: 8cc1172ef9615096cd5062a7e1e1dc68
Erstellt am: 21.5.2015


Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. -DGZfP-, Berlin:
ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung. DGZfP-Jahrestagung 2011. CD-ROM : Zerstörungsfreie Materialprüfung, Bremen, 30. - 1. Juni 2011
Berlin: DGZfP, 2011 (DGZfP-Berichtsbände 127-CD)
ISBN: 978-3-940283-33-7
Paper Di.1.C.4, 8 S.
Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (Jahrestagung) <2011, Bremen>
Deutsch
Konferenzbeitrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IZFP ()
Thermografie; Oberflächenrissprüfung; Qualitätssicherung; Prüftechnik

Abstract
Die induktiv angeregte Thermografie eignet sich sehr gut zur Oberflächenrissprüfung ferromagnetischer und austenitischer Stähle und besitzt das Potenzial, zur vollautomatischen Prüfung von Bauteilen in der industriellen Qualitätssicherung eingesetzt zu werden. Der vorliegende Beitrag befasst sich mit neueren Entwicklungen der Prüftechnik mit dem Ziel, auch verdeckte, unter der Oberfläche liegende, rissartige Fehlstellen nachweisen zu können. Es werden die physikalischen Mechanismen des Fehlernachweises und die Bedingungen behandelt, unter denen solche Fehlstellen nachweisbar sind.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-203944.html

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