Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Zuverlässigkeit von Substraten der Leistungselektronik gegenüber Temperaturzyklen im Vergleich

 
: Roth, A.; Ponomarenko, M.; Knörr, M.; Schletz, A.

Lang, K.-D. ; Deutscher Verband für Schweißen und Verwandte Verfahren e.V. -DVS-; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-:
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2010 : Zuverlässigkeit und Systemintegration. Vorträge der 5. DVS/GMM-Tagung in Fellbach am 24. und 25. Februar 2010
Düsseldorf: DVS Media, 2010 (DVS-Berichte 265)
ISBN: 978-3-87155-277-9
ISSN: 0418-9639
S.251-255
Fachtagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) <5, 2010, Fellbach>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IISB ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-203475.html