Fraunhofer-Gesellschaft

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Systemzuverlässigkeit sicherheitskritischer Mikropositioniersysteme

 
: Hanselka, H.; Bein, T.; Melz, T.

Sonsino, C.M. ; Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung e.V. -DVM-, Berlin:
Mechatronik und Betriebsfestigkeit : 8. und 9. Oktober 2003, Stuttgart-Vaihingen
Berlin: DVM, 2003 (DVM-Bericht 130)
S.55-65
Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung, Arbeitskreis Betriebsfestigkeit (Tagung) <30, 2003, Stuttgart>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer LBF ()
aktives System; Mikrosystem; Systemzuverlässigkeit; Sicherheit; Mikroelektronik; Zuverlässigkeit

Abstract
Der Einsatz neuartiger Mikrosysteme in sicherheitskritischen, aktiven Struktursystemen erfordert ein hohes Maß an Zuverlässigkeit und Sicherheit, da schon eine Fehlfunktion oder mit Ausfall eines Subsystems eine Gefährdung oder der Verlust des Gesamtsystems verbunden sein kann. Insbesondere in sicherheitskritischen Bereichen besteht der Bedarf, geeignete Werkzeuge und Verfahren zum Nachweis der Zuverlässigkeit und Sicherheit von aktiven Systemen mit integrierten Mikrosystemen zu entwickeln. Für derartige Systeme muss in der Systemzuverlässigkeitsanalyse "Ausfall" bzw. "Fehler" neu spezifiziert werden. Es ist u. a. zu klären, welche Funktion eines Subsystems für die Einsatzfähigkeit des Gesamtsystems von Bedeutung ist bzw. wann ein Ausfall vorliegt. Ein Blick auf den gegenwärtigen Forschungsstand zeigt, dass besonders für komplexe, interagierende Systeme bestenfalls vereinzelte, anwendungsspezifische Untersuchungen durchgeführt wurden, die eine nötige allgemeine Verwendung nicht zulassen. In diesem Beitrag sollen die Anforderungen und Ansätze für Methoden und Verfahren dargestellt werden, die eine Analyse und darauf aufbauend eine Bewertung der Systemzuverlässigkeit und Sicherheit aktiver Systeme mit eingebetteten Mikrosystemen ermöglichen.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-19497.html