Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Selective etching and complementary microprobe techniques

 
: Weyher, J.L.; Frigeri, C.; Müller, S.

Jimenez, J.:
Microprobe characterization of optoelectronic materials
London: Taylor and Francis, 2003 (Optoelectronic properties of semiconductors and superlattices 17)
ISBN: 1-56032-941-6
S.595-689 (Chapter 8)
Englisch
Aufsatz in Buch
Fraunhofer IAF ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-19352.html