Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Detektion und Auffindwahrscheinlichkeit (POD) von Oberflächenfehlern

 
: Rauhut, M.; Spies, M.; Taeubner, K.

Puente Leon, F.; Heizmann, M. ; Karslruher Institut für Technologie -KIT-:
Forum Bildverarbeitung : 2.-.3. Dezember 2010 in Regensburg
Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, 2010
ISBN: 978-3-86644-578-9
S.167-180
Forum Bildverarbeitung <2010, Regensburg>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer ITWM ()
Oberflächeninspektion; Optik; Fehler; Auffindwahrscheinlichkeit; Metall

Abstract
Neben den klassischen ZfP-Verfahren zur Oberflächenprüfung setzen sich verstärkt optische Verfahren durch, da sie berührungslos arbeiten und vielfältige Möglichkeiten zur Online-Fehlererkennung und klassifikation mittels geeigneter Algorithmen bieten. Abhängig von der Güte und der Komplexität des Beleuchtungs- und (Video-) Kamerasystems werden unterschiedliche Auflösungen im Hinblick auf die Fehlergröße erreicht. Um verschiedene, in der Praxis eingesetzte Systeme quantitativ bewerten zu können, haben wir eine â versus a-Analyse zur Bestimmung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit (POD) an ebenen Testkörpern mit Bohrungen und Nuten unterschiedlicher Dimensionierung und Orientierung durchgeführt. Wir zeigen, dass die Anwendung komplexerer Sensorik und Algorithmik zu einer erheblichen Verbesse rung der POD führt und den Einsatz optischer Oberflächeninspektionsverfahren zur quantitativen ZfP im Bereich der automatischen Qualitätskontrolle unterstützt.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-147466.html