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Konferenzschrift
Zerstörungsfreie Beobachtung von Rissen in Leiterplattendurchkontaktierungen - Quantisierung der Risslänge mittels Impulsthermographie und FEM-Simulation
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2010
Conference Paper
Titel
Zerstörungsfreie Beobachtung von Rissen in Leiterplattendurchkontaktierungen - Quantisierung der Risslänge mittels Impulsthermographie und FEM-Simulation
Author(s)
Schacht, R.
Abo Ras, M.
May, D.
Wunderle, B.
Michel, B.
Reichl, H.
Hauptwerk
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2010
Konferenz
Fachtagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) 2010
Language
German
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Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM