Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Den Mikrorissen auf der Spur

Inline-Thermographie-System prüft Solarzellen
On the trail of microcracks: Thermography based inline inspection system for solar cells
 
: Fulga, Simina; Eigenbrod, Hartmut

Qualität und Zuverlässigkeit : QZ 54 (2009), Nr.9, S.48-50
ISSN: 0033-5126
ISSN: 0720-1214
Deutsch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer IPA ()
Thermographie; Rissprüfverfahren; wafer; Bildverarbeitung; Solarzelle; Qualitätsprüfung

Abstract
Während des Fertigungsprozesses sind die teuren und daher möglichst dünnen Silizium-Wafer hohen mechanischen Belastungen ausgesetzt. Die dabei entstehenden, kaum sichtbaren Beschädigungen spürt ein Inline-Prüfsystem des Fraunhofer IPA, Stuttgart, auf Basis der Wärmefluss-Thermographie auf. Mit diesem System lassen sich selbst feine Mikrorisse in Solarzellen detektieren.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-120624.html