Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Reliability Investigation of Large GaAs Pixel Detectors Flip Chip Bonded on Si Readout Chips

 
: Klein, M.; Oppermann, H.; Hutter, M.; Fritzsch, T.; Engelmann, G.; Dietrich, L.; Wolf, J.; Brämer, B.; Dudek, R; Reichl, H.

Michel, B.:
MicroNanoReliability 2007, 1st World Congress MicroNanoReliability : Berlin, September, 2 - 5, 2007
Dresden: ddp Goldenbogen, 2007 (Micromaterials and Nanomaterials 6.2007)
World Congress MicroNanoReliability <1, 2007, Berlin>
Englisch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IZM ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-120396.html