Fraunhofer-Gesellschaft

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Verschleißmonitoring bei Hüftgelenkendoprothesen durch integrierte Mikrosensorik

 
: Baum, M.; Hientzsch, M.; Boese-Landgraf, J.; Otto, T.; Gessner, T.

Zengerle, R. ; Bundesministerium für Bildung und Forschung -BMBF-; Verband der Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik -VDE-; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-:
Mikrosystemtechnik Kongress 2005 : 10. bis 12. Oktober 2005 in Freiburg
Berlin: VDE-Verlag, 2005
ISBN: 3-8007-2926-1
ISBN: 978-3-8007-2926-5
S.633-636
Mikrosystemtechnik Kongress <2005, Freiburg>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IZM ()
Fraunhofer ENAS ()

Abstract
In diesem Beitrag werden Möglichkeiten und Prinzipien zur ständigen Überwachung des Verschleißes und des Funktionszustandes bei Hüftgelenkendoprothesen aufgezeigt und erste Ergebnisse einer messtechnischen Charakterisierung vorgestellt. Ziel dieser Untersuchung ist es, Einsatzmöglichkeiten von intelligenter Mikrosensorik durch experimentelle Charakterisierung zu bewerten und darzustellen, sowie Wege zur Senkung der Ausfallrate von Prothesen aufzuzeigen. Dadurch können sowohl die Belastung des Patienten als auch die Kosten teurer Re-visionsoperationen und darauf folgender Rehabilitationen verringert werden.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-119296.html