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Verfahren zum Erzeugen eines Signals fuer einen Test eines Analog-Digital-Wandlers, Verfahren zum Erzeugen eines Wertes fuer einen Test eines Analog-Digital-Wandlers und Analog-Digital-Wandler

Signal producing method for testing analog-digital converter, involves producing signal for testing analog-to-digital converter, where signal contains information about frequency of adjusting one of potential values
 
: Kappert, H.; Kordas, N.; Lerch, R.; Luedecke, A.

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Frontpage ()

DE 102008033180 A: 20080715
DE 102008033180 A: 20080715
H03M0001
Deutsch
Patent, Elektronische Publikation
Fraunhofer IMS ()

Abstract
(A1) Es wird ein Verfahren (100) zum Erzeugen eines Signals (Vt) fuer einen Test eines Analog-Digital-Wandlers mit einem Komparator (310) und einem Kondensator-Netzwerk (320) beschrieben, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist: Einstellen (110) eines ersten Potentialwerts (P1, P1') an einem Eingang (312) des Komparators (310) ueber Kondensatoren (420, 430, 440, 450; 460) des Kondensator-Netzwerks (320), das, bezogen auf einen vorbestimmten Schwellenwert (Vthr) des Komparators, hoeher oder niedriger ist; Entladen bzw. Laden (120) der Kondensatoren (420, 430, 440, 450; 460) des Kondensator-Netzwerks (320), bis das an dem Eingang (312) des Komparators anliegende Potential (Vc) den vorbestimmten Schwellenwert (Vthr) unterschreitet bzw. ueberschreitet; Einstellen (130) eines zweiten Potentials (P2, P2') an dem Eingang (312) des Komparators (310) ueber die Kondensatoren (420, 430, 440, 450; 460) des Kondensator-Netzwerks (320), das, bezogen auf den vorbestimmten Schwellenwert (Vthr), niedriger bzw. hoeher als der ersten Potentialwert (P1, P1') ist; Laden bzw. Entladen (140) der Kondensatoren (420, 430, 440, 450; 460) des Kondensator-Netzwerks (320), bis das an dem Komparator anliegende Potential (Vc) den vorbestimmten Schwellenwert ueberschreitet bzw. unterschreitet; und Erzeugen (150) des Signals (Vt) fuer den Test, wobei das Signal fuer den Test eine Information ueber eine Frequenz des Einstellens (110) des ersten Potentialwerts und/oder des Einstellens (130) des zweiten ...

 

DE 102008033180 A1 UPAB: 20100204 NOVELTY - The method involves adjusting a potential value an input of a comparator by capacitors of a capacitor network, where the value is smaller or larger than another potential value. The capacitors are charged and/or discharged still potential exceeds and/or falls below a predetermined threshold value, where the potential lies at the comparator. A signal for testing an analog-to-digital converter, which is provided with the comparator and capacitor network, is produced, where the signal contains information about a frequency of adjusting one of the potential values. DETAILED DESCRIPTION - An INDEPENDENT CLAIM is also included for an analog-to-digital converter with a comparator and a capacitor. USE - Method for generating a signal for testing an analog-digital converter (claimed) that is utilized for converting an analog input value to a digital output value and/or codes. ADVANTAGE - The method efficiently tests the analog-digital converter, without a need for external capacitor for testing the converter, and reduces storage requirement for self testing of the converter.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-118879.html