Fraunhofer-Gesellschaft

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Statistische Parasitics-Extraction und Crosstalk-Noise

 
: Heinig, A.; Sohrmann, C.

:
Preprint urn:nbn:de:0011-n-1186092 (185 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: 69564f939bbaef13e0d9e0cf6e00e02b
Erstellt am: 23.2.2010


Sattler, S. ; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-; Informationstechnische Gesellschaft -ITG-:
Zuverlässigkeit und Entwurf. 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung 2009 : 21. bis 23. September 2009 in Stuttgart
Berlin: VDE-Verlag, 2009 (GMM-Fachbericht 61)
ISBN: 978-3-8007-3178-7
S.77-78
VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik (Fachtagung) <3, 2009, Stuttgart>
Deutsch
Konferenzbeitrag, Elektronische Publikation
Fraunhofer IIS, Institutsteil Entwurfsautomatisierung (EAS) ()

Abstract
Crosstalk-Noise gewinnt in modernen Fertigungstechnologien im Bereich unter 100nm zunehmend an Bedeutung, da sich sowohl verringerte Leitungsabstände als auch das ungünstige Verhältnis aus Leitungsbreite zu Leitungshöhe stark negativ auf das Schaltverhalten und die korrekte Funktion sowie den Energieverbrauch der Schaltung auswirken. Da in sub-100nm Technologien nicht nur Crosstalk-Noise-Effekte sondern auch Parameterschwankungen zunehmen, ist es unumgänglich, diese bei der Analyse mit zu berücksichtigen. Keine der bekannten Ansätze liefert dazu eine befriedigende Lösung. Hier wird eine Methode vorgestellt, mit der technologiebedingte Parameterschwankungen in Leistungsstrukturen auf RC-Ersatzschaltung abgebildet werden können.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-118609.html